OLYMPUS 奥林巴斯 OLS5100-SAF 3D激光扫描显微镜

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型号 OLS5100-SAF

品牌 OLYMPUS 奥林巴斯

18320955412

产品详情

OLYMPUS 奥林巴斯 OLS5100-SAF 3D激光扫描显微镜

型号		OLS5100-SAF	OLS5100-SMF	OLS5100-LAF	OLS5100-EAF
综合倍率		54x ～ 17280x
视场		16 µm ～ 5,120 µm
测量原理	光学系统	反射型共聚焦激光扫描（激光）显微镜反射型共聚焦激光扫描（激光-DIC）显微镜彩色彩色-DIC
	光接收元件	激光：光电倍增管（2通道）彩色：CMOS彩色相机
高度测量	显示分辨率	0.5 nm
	动态范围	16位
	可重复性σ_n-1^{1 2 *5}	5X：0.45μm，10X：0.1μm，20X：0.03μm，50X：0.012μm，100X：0.012μm
	准确度 ^{1 3 *5}	0.15 + L/100 μm（L：测量长度[μm]）
	拼接图像准确度 ^{1 3 *5}	10X：5.0+L/100 μm；20X或更高：1.0+L/100 μm（L：拼接长度[μm]）
	测量噪声（Sq噪声） ^{1 4 *5}	1 nm（典型值）
宽度测量	显示分辨率	1 nm
	可重复性3σ_n-1 ^{1 2 *5}	5X：0.4μm，10X：0.2μm，20X：0.05μm，50X：0.04μm，100X：0.02μm
	准确度 ^{1 3 *5}	测量值+/- 1.5%
	拼接图像准确度 ^{1 3 *5}	10X：24+0.5L μm；20X：15+0.5L μm；50X：9+0.5L μm；100X: 7+0.5L μm（L：拼接长度[mm]）
单次测量时最大测量点数量		4096 × 4096像素
最大测量点数量		3600万像素
XY载物台配置	长度测量模块	•	不适用	不适用	•
	工作范围	100 × 100 mm电动	100 × 100 mm 手动	300 × 300 mm 电动	100 × 100 mm 电动
最大样品高度		100 mm	40 mm	37 mm	210 mm
激光光源	波长	405 nm
	最大输出	0.95 mW
	激光分类	2类（IEC60825-1：2007，IEC60825-1：2014^*6
彩色光源		白光LED灯
电气功率		240 W	240 W	278 W	240 W
质量	显微镜主体	约重31 kg	约重32 kg	约重50 kg	约重43 kg
	控制盒	约重12 kg

*1 在ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)规定的恒温恒湿环境中使用时可达到规格要求（温度：20℃±1℃，湿度：50％±10%）。
*2 在使用MPLAPON LEXT系列物镜且放大倍率为20倍或更高时。
*3 在使用专用LEXT物镜测量时。
*4 在使用MPLAPON100XLEXT物镜测量时的典型值，可能与保证值不同。
*5 在Evident认证体系下有保证。
*6 OLS5100是2类激光产品。请勿盯着光束看。

** Evident提供的显微镜控制器已获得Window 10操作系统许可证。因此，Microsoft的许可条款适用，并且您要同意这些条款。请参阅以下Microsoft的许可条款。
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm

物镜

系列	型号	数值孔径（NA）	工作距离（WD）（mm）
UIS2物镜	MPLFLN2.5X	0.08	10.7
UIS2物镜	MPLFLN5X	0.15	20
专用LEXT物镜（10X）	MPLFLN10XLEXT	0.3	10.4
专用LEXT物镜（高分辨率）	MPLAPON20XLEXT	0.6	1
	MPLAPON50XLEXT	0.95	0.35
	MPLAPON100XLEXT	0.95	0.35
专用LEXT物镜（长工作距离型）	LMPLFLN20XLEXT	0.45	6.5
	LMPLFLN50XLEXT	0.6	5.2
	LMPLFLN100XLEXT	0.8	3.4
超长工作距离物镜	SLMPLN20X	0.25	25
	SLMPLN50X	0.35	18
	SLMPLN100X	0.6	7.6
长工作距离LCD物镜	LCPLFLN20XLCD	0.45	8.3-7.4
	LCPLFLN50XLCD	0.7	3.0-2.2
	LCPLFLN100XLCD	0.85	1.2-0.9

应用软件

标准软件	OLS51-BSW
	数据采集应用程序	分析应用程序（简单分析）
电动载物台软件包应用程序*1	OLS50-S-MSP
高级分析应用程序*2	OLS50-S-AA
薄膜厚度测量应用程序	OLS50-S-FT
自动边缘测量应用程序	OLS50-S-ED
颗粒分析应用程序	OLS50-S-PA
实验流辅助应用程序	OLS51-S-ETA
球体/圆柱体表面角度分析应用程序	OLS50-S-SA