Santec 圣德科 ILM-100 插损测试仪

一体化操作的紧凑台式仪器

•USB和以太网接口

•可用于测井测量的测试软件OPL-CLX

•全自动单波长和双波长插入损耗测量

•可提供具有定义发射条件的多模仪器（EF、AS100、70/70等）

•各种探测器选项

•可定制的来源和光纤类型

•可互换的适配器接口

ILM-100设计用于快速准确地测量光纤元件的插入损耗。该系统有一个内置的用于单模应用的稳定激光源或用于多模应用的LED源。带有双重波长配置，可以在不到1秒的时间内测量两个波长的插入损耗。ILM-100系统配备了USB和以太网控制，便于集成到测试系统中。